-工業(yè)視覺缺陷檢測(cè)；

地板印花對(duì)花檢測(cè)儀

◎摘要說(shuō)明：

底板印花對(duì)花檢測(cè)儀，主要為了解決客戶地板生產(chǎn)中，卷料花紋和印花筒花紋不對(duì)應(yīng)的情況。設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)在機(jī)構(gòu)結(jié)構(gòu)、光學(xué)系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、檢測(cè)算法等部分，均深入考慮地板生產(chǎn)的特性，搭配前沿的檢測(cè)算法。

晶元檢測(cè)設(shè)備

◎摘要說(shuō)明：

晶元檢測(cè)儀為晶圓生產(chǎn)過(guò)程中檢測(cè)的解決方案 ，設(shè)計(jì)團(tuán)隊(duì)在機(jī)構(gòu)結(jié)構(gòu)、光學(xué)系統(tǒng)、控制系統(tǒng)、檢測(cè)算法等部分，均深入考慮晶元產(chǎn)品特性，搭配前沿的檢測(cè)算法、精準(zhǔn)提取亞像素級(jí)亮度（測(cè)量精度3%以內(nèi)），通過(guò)圖像優(yōu)化預(yù)處理的方式，充分解決灰塵過(guò)濾、摩爾消除等難題，以便更適配各晶元的Demura-IP補(bǔ)償特性，達(dá)到精確補(bǔ)償效果。